公开号：	US2007170947A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	测量FET性能的方法和仪器
摘要：	该仪器用于测量FET的性能，通过产生一个应用于FET的G门的脉冲，并且测量电压，该电压取决于流进FET的回应脉冲的漏电流。该仪器包括一个用于产生脉冲的脉冲发生器，一个位于脉冲发生器之后的定向元件，以及测量电压的电压测量装置。