| 摘要： | 发明了一种用于检测稀薄样品的迅速温度变化的方法和仪器。该仪器包括一个牢牢嵌在薄膜中的薄膜电阻元件，一个在薄膜和散热片及控制电路之间的狭窄的空隙。电阻元件既作为加热器也作为温度传感器，以减少控制电路的时间常数。薄膜和散热片之间的空隙充满了具有低热量惯性的作为冷却介质的气体。温度调解器有一个微秒时间常数，能够迅速地调整以适用于薄膜的功率，取决于在等温线期间或温度变换率已知期间的热释放/吸收。薄膜有低热量惯性，并且，与高速温度调解器一起，能够允许受控冷却和加热速率提高到100,000Ks或者更高。该方法可以是任意需要检测稀薄或小样品的受控快速的温度时间外形设备的核心。其提出的控制电路可以容易地被应用于现有的各种带有电阻加热器的设备中。 |