公开号：	US7349093B2
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	荧光性测量设备
摘要：	一个基底上承载着待探测的试样，一个介质多层反射由以上的基底提供的激励光并传送从试样发射的荧光，这个激励光当传输的荧光在光接收单元上被探测到时就在在介质多层上被反射，因此应用一个荧光测量设备可以解决由于基底的自荧光或光接收滤波器发出的激励光的泄露造成的探测敏感度降低的问题，这样使得探测的样品具有较高灵敏度。