公开号：	US2006198582A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	光学
专利名：	光电探测设备和光源模式
摘要：	这里介绍的光电探测设备包括：一个光电探测器，其探测敏感度是一级波长；一个一级光纤传播光，其传播多模下一级波长的光，一级光纤有一个入端在一级波长减小时；和一个二级光纤，其传播多膜下一级波长的光，二级光纤的纤芯直径和数值孔径均比一级光纤好，其有两个端口，其在一级光纤纵向方向上与一级光纤中部在光学上耦合，并且其一个端口与光电探测器耦合。