公开号：	US2007153232A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	光学
专利名：	光学透镜制造系统
摘要：	一个具有光学像差校准功能的光学透镜制造系统包括高阶像差例如所谓的Zemike多项式。该系统可以包括一个测量系统用于测量病人眼睛的光学像差然后建立测量像差数据。一个计算系统用于接收测量像差数据。一个制造系统根据透镜的定义制造出经过校准的透镜。