公开号：	US2007161075A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	光学
专利名：	荧光显微镜方案
摘要：	本发明提供一种显微镜排列方案和一种方法，使用其可标定样本（20）中对电磁敏感的荧光标记（21）的空间分布。荧光辐射（VF）主要是由样本（20）辐射激发，并由显微镜成像。同时，在样本（20）中将产生一个非均匀的空间电磁场，有一个小焦区（22），具有最小的磁场强度。荧光辐射激发可在焦区（22）改变，可通过测量的强度分布（IFM）观察。用这种方法，尺寸在显微镜（10）光学分辨率之下的荧光标记（21）都可被重建，这些荧光标记的分布甚至是在焦区（22）。