公开号：	US2008007840A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	光学
专利名：	光学元件及化学分析方法
摘要：	一方面，本发明涉及的光学元件产生从小于指定强度的光源发出的指定强度的光。在一个该元件的实例中，包含一个第一光源；一个第二光源；在第二光源的光通信中的一个双道威反高斯发生器；在第二光源的光通信中的一个补偿器。从第一光源发出的光通过双道威反高斯发生器，从第二光源发出的光通过补偿器，它们被合并后形成平均高斯强度分配。另一方面，该发明还涉及了将图像分离成子单元，并从探测器中并行读取分离的子单元的方法和装置。