公开号：	US2008079930A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	光学
专利名：	测量装置和方法
摘要：	测量装置含有一个辐射源，可以提供测量光束，独立控制测量元件被测量光束照射并对测量光束进行准直操作，探测器接收准直测量光束并决定其入射位置，该入设位置是独立测量元件的测量指标。