公开号：	US2008089642A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	光学
专利名：	用于小体积传感器的光子晶体传感器
摘要：	本发明关于光子晶体仪器和制造方法。光子晶体仪器包括具有电介体的光子晶体，电介体由高折射率的第一电介质材料形成，周期格子状电介体由低折射率的第二电介质材料形成。第二电介质材料由介电常数为小于等于2.7的电介质材料组成，在电介体折射率和周期格子折射率间提供了更大的对比值。