公开号：	US2008266553A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	光学
专利名：	光学角度检测
摘要：	本专利发明了能够检测入射角的仪器和方法。该仪器具有两个光学探测器，第一个放置在一个够展示角度关联光学传输特性的包层前面，从而区别于第二个光学探测器前面的光学路径。不同探测器所接受的光特性不同从而得到了光的入射角。角度探测器特别适用于空间光学通信系统。