公开号：	US2006222220A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	探测指定结晶聚合物的方法
摘要：	根据本发明专利的特定高分子晶体的测量方法，用紫外线照射样品溶液，探测从样品溶液中射出的荧光图像，以测量样品溶液中的高分子。进一步，通过从样品溶液中含有的样品的可见光图像探测到的样品外轮廓，晶体从其他材料中被区分出来。通过整合荧光图像和可见光图像的测量结果，指定高分子晶体可以从样品溶液中探测出来。