公开号：	US2006242511A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	互连电路的高速测试方法和装置
摘要：	一个扩展测试指令、一个衰变测试指令和一个循环测试指令提供了对包括JTAG边界扫描单元电路电路在内的DC和AC互连电流的测试。测试访问端口和边界扫描单元都需要加上一些附加物，从而实现一些额外的指令。这些指令是传统的JTAG操作结构。