公开号：	US2007152840A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	控制和材料分析
专利名：	使用光检测器检测损害的系统和方法
摘要：	一个光学反损耗系统包括一个定位在起落架上的光发射层，一个定位在起落架上的光检测层和一个或多个光耦合到光检测层上的检测器。一个或多个检测器和警报进行通信。如果增长的光水平被至少一个检测器检测到，这个警报可操作来传输损耗时间警报信号。