| 摘要： | 受热几何测量设备用于测量加热环境下样品的几何公差。该测量设备包括一个温度控制箱以及一个光学传感器。该温度控制箱包括一个具有剪短窗口的覆盖和基板。控制箱还包括一个支撑部件，用于确定对流室以及一个分区。分区上有个与加热室和对流室进行交换信息的开口。样品载体上表面上有个基准面，位于开口的上方。大量的空气管道放置在样品载体周围，并且开口朝向样品载体。该传感器在箱体覆盖上方水平移动。从传感器发出的入射光通过窗口，投射在基准面和样品上。反射光束从基准面和样品上反射回来。通过分析入射光和反射光，就可以测出几何公差。 |